BRUKER M4 TORNADO PLUS 微小部蛍光X線分析装置

BRUKER

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製品名
M4 TORNADOPLUS
概算価格:¥22,000,000~

μ-XRFは不均一、不平滑、微小試料の高感度非破壊分析に用いられます。
本装置はポリキャピラリーを用いたX線光学系により極微小領域の高感度元素分析を高速に行うことが可能です。
RoHS指令、絵画/古美術の分析、バルク/メッキ薄膜分析や大型試料の測定など、広範囲なアプリケーションに対応します。

【特徴】

・世界初、C(炭素)~Am(アメリシウム)元素領域の卓上型μXRF
・世界初、AMS搭載で凹凸試料に対応
・20μm集光ポリキャピラリー
・自社製XFlash SDD検出器搭載
・大気、真空、He測定
・10倍/100倍/全体のCCDカメラによる測定位置確認

【仕様】

・マッピングサイズ:W200×D155×H120mm
・試料室サイズ:W600×D350×H260mm
・ステージサイズ:W330×D170mm