HORIBA nano Partoca SZ-100V2 ナノ粒子解析装置

HORIBA

お見積商品

製品名 仕様
ナノ粒子解析装置 nano Partica SZ-100V2
SZ-100-HZ2
概算価格:¥15,000,000~
ハイパワーレーザ
粒子径
ゼータ電位
分子量
ナノ粒子解析装置 nano Partica SZ-100V2
SZ-100-HS2
概算価格:¥11,500,000~
ハイパワーレーザ
粒子径
分子量
ナノ粒子解析装置 nano Partica SZ-100V2
SZ-100-Z2
概算価格:¥12,000,000~
ゼータ電位
分子量
ナノ粒子解析装置 nano Partica SZ-100V2
SZ-100-S2
概算価格:¥8,500,000~
粒子径
分子量

動的光散乱式粒子径分布測定装置
「ナノの世界」を解き明かす、HORIBA社ナノ粒子解析 最高水準機。

ナノ粒子を特徴づける三大要素『粒子径・ゼータ電位・分子量』測定を1台に集約した「nanoPartica」シリーズが、
より高感度になって新登場!

ハイパワーレーザ(100mW)モデルをラインアップ
・希薄サンプルの測定事例

デュアル光学系の採用に加え、ハイパワーレーザの搭載により、従来モデル(SZ-100)比で約15倍感度が向上しました。
これにより、濃度が薄い試料や散乱光強度が弱い粒子でも、精度・再現性よく測定できるようになりました。

・シングルナノ粒子の測定事例
HORIBA社独自の高精度・高速コリレータ搭載と、低迷光90°光学系の採用によりシングルナノ粒子の高精度測定を実現しました。

多彩なオプション・セルで広がるアプリケーション
・ゲル材料のネットワーク構造解析事例

動的光散乱法によるゲルの網目サイズ評価では、ゲル中の多点の測定機構とゲルに特化した演算方式を採用することで、
ゲルの網目構造を簡便に解析できます(オプション)。

【特徴】

【SZ-100-HZ2、SZ-100-HS2】
・ハイパワーレーザを標準搭載。
 散乱光信号が弱い小さな粒子や希薄試料、濃縮が困難な試料に対応可能
・光学系レイアウトの改良によりS/N比が改善、測定感度が向上
・レーザ光源の波長やフィルタオプションも充実し、幅広い用途や応用に対応可能

【SZ-100-Z2、SZ-100-S2】
・ナノ粒子のキャラクタリゼーションを解析する重要な要素(粒子径・ゼータ電位・分子量測定)を1台に集約。
・Dual光学系とHORIBA社オリジナルのコリレータ採用による高性能化を実現。
・ppmオーダの希薄系から数十%レベルの高濃度試料まで、そのままの状態でのサンプリング・測定が可能。
・微小容量電気泳動セル 独自の開発により、わずか100μLサンプリングでのゼータ電位測定。

【仕様】

測定原理 粒子径: 光子相関法
ゼータ電位: 電気泳動レーザドップラー法
分子量: 静的光散乱Debyeプロット
測定範囲 粒子径:
・0.3 nm ~ 10 μm (直径)
ゼータ電位:
・-500 mV ~ +500 mV (粒子: 2.0 nm~100 μm)
分子量:
・Debyeプロット 1000 ~ 2 x 107
・MHS式 540 ~ 2 x 107
※試料に依存
粒子径測定角度 90° および173° (ただし、試料濃度による)
サンプルセル キュベットセル(粒子径・分子量)
電極付きセル(ゼータ電位)
測定部光学系 光源: 半導体励起固体レーザ 532 nm 10 mW、または 100 mW
検出器: 光電子倍増管(PMT)
ホルダ温度温調設定温度 0~90℃(プラスチック製セルおよび電極付きセルは70℃まで)
レーザクラス クラス1