| 製品名 |
| 微小部X線分析装置 XGT-9000 概算価格：￥18,000,000～ |
高感度化+新イメージング技術により、スピード異物分析が一台で完結！進化したμXRF
高感度化+新イメージング技術により、スピード異物分析が一台で完結！進化したμXRF前処理不要・非破壊で簡単元素分析
微小な領域も高精細な光学観察で測定ポイントに迅速アクセス
多彩な画像解析ソフトも充実
クリアで高速なイメージマッピング
分析時間の短縮に貢献します。
ノイズの少ないX線像で、より鮮明な観察が可能になりました。
異物分析の新しいソリューション
高速スクリーニングと画像処理による強調表示で異物を迅速検出。
さらに微小照射径のX線により、異物の元素を詳細に分析でき、一連の異物分析を1台で完結できます。
数十μmレベルまでの異物分析が可能です。
【特徴】
・同軸照明・周囲照明・透過光照明の組み合わせにより凹凸のある試料や鏡面試料が鮮明に観察可能・特定元素の強調表示（特徴点）
・画像の重ね合わせにより分析・解析が容易化
・ピーク分離マップで、ピークの近い元素も判別可能
【仕様】
| 測定対象元素 | Na～U |
| 透過X線・蛍光X線・光学像 | 同時分析可能 |
| X線照射径・感度 | 要望仕様により3種選択可能 |
| 観察用照明 | 同軸照明・周囲照明・透過光照明 |
| 試料室 | デュアル・バキューム・チャンバー（真空チャンバー、真空プローブ切り替え可能） |
| 分析対象 | 1か所の定性定量分析から元素マッピング分析まで |
| マッピングサイズ | 100×100mm |