モレキュラーデバイス Gemini EM / XPS 蛍光マイクロプレートリーダー

モレキュラーデバイス

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製品名 内容
蛍光マイクロプレートリーダー Gemini EM
EM
概算価格:¥5,230,000
可視・紫外測定波長領域:
 励起波長 250-850 nm
 測定波長 250-850 nm
上方・下方測定に対応
蛍光マイクロプレートリーダー Gemini XPS
XPS
概算価格:¥5,410,000
可視・紫外測定波長領域:
 励起波長 250-850 nm
 測定波長 360-850 nm
上方測定のみ対応

Gemini EM/XPS 蛍光マイクロプレートリーダーは、モノクロメーターを2基搭載することにより、 様々な励起波長・蛍光測定波長の組み合わせで蛍光強度を測定できます。

実際のサンプルを用いて、測定に最適な波長の組み合わせや新しい蛍光プローブの測定条件を探索できます。

  • デュアルスキャンニングモノクロメーター搭載
  • 励起波長、測定波長ともに1 nm刻みで設定可能
  • 励起スペクトル、蛍光スペクトルともにスキャン可能
  • 効率よくノイズを排除するオートカットオフ機構搭載
  • 最大4波長順次測定
  • 6~384ウェルマイクロプレート対応
  • 撹拌および温度制御機能
  • ウェルスキャン

最高の性能を発揮する優れた光学デザイン

蛍光マイクロプレートリーダーは、励起光の光軸と測定系の光軸が直交している蛍光光度計とは異なり、一般的にそれらの光軸が同一方向であるため、蛍光プローブによっては励起光に由来する反射光や散乱によるノイズを測定してしまいます。
Geminiマイクロプレートリーダーでは、励起光を斜めに照射してノイズを分離・最小化し、最大のシグナルノイズ(S/N比)が得られるようにデザインされています。
狭いストークスシフトをもつ蛍光プローブに特に有効です。
また、UV/VISリファレンスダイオードは、励起光のわずかな変動によって発生する測定ノイズを補正により取り除きます。

蛍光プレートアッセイの最適化

Gemini EM/XPSであれば、文献に記載されている励起波長や測定波長に縛られることはありません。
実際のサンプルを用いてスキャンを行い、S/N比が最も良い組み合わせを検定し、設定することができます。
たとえ蛍光色素の波長域がシフトしてしまっても、簡単に追随できます。
内蔵された10か所以上のカットオフポイントを設定することで、さらに感度を上げることができます。

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